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當你的 VR 眼鏡出現模糊時， 問題可能藏在納米級光柵裏
消費者抱怨 AR 設備畫麵不清晰？ 工業質檢員反複校準色度計？這些問題的根源往往指向光柵元件的微觀缺陷——
▶納米級的周期誤差 可導致意想不到的光線傳輸
▶K 矢量畸變 引發光線傳播串擾，造成成像模糊 、色偏
▶傳統接觸式測量 劃傷鍍膜層 、精度低 、無法精確測試 K 矢量卓立光柵測試係統 ，重新定義納米級光柵器件的質量基線
設備內部實拍
一 、 Littrow 結構+糾偏算法 ：破解衍射光柵的"基因密碼"
Littrow 結構示意圖
▌λ/10000--0.02nm 級光柵周期解析精度
基於 Littrow 自準式入射結構， 係統通過精密調整入射角與衍射光強反饋， 實現 0.02nm 級 光柵周期測試靈敏度 。相較傳統透射電子顯微鏡 、 原子力顯微鏡分析法， 分辨率提升 100倍。
▌0.005° --K 矢量高精度測試
獨*算法實時解算光柵麵內 K 矢量角度， K 矢量精度可達 0.005° , 全麵監測光柵器件麵內 K 矢量異常 。某 AR 光波導客戶借此將產品調試周期從 48 小時縮短至 6 小時。
▌支持多種光柵參數測試
光柵測試係統支持多類型光柵測試，包括 ：閃耀光柵、反射全息光柵、透射全息光柵和布拉 格體全息光柵等 。助力 VR 、AR 行業客戶 。（實際使用請谘詢）
二、硬核技術矩陣：實驗室精度，工業級可靠性
▶卓立四軸軸微米級定位係統
位移軸光柵尺反饋，重複定位精度±3μm，閉環分辨率：1μm
旋轉軸光柵尺反饋，重複定位精度±0.003°，閉環分辨率：0.000152°
支持Φ254mm 超大光柵片全域 mapping，40s 完成單點測量，較手動調節效率提升 50 倍。
光柵 mapping 結果
三、從實驗室到產線：全場景解決方案
▶科研模式
開放 API 接口，支持自定義測量 Recipe，支持自定義數據處理。
▶工業模式
真空吸附，自動上下料，無縫對接 MES/QMS 係統，全自動檢測
四 、 係統關鍵參數一覽表
單點周期重複精度 | ≤0.02nm |
單點周期絕對精度 | ≤ ±0.1nm |
單點光柵麵內矢量角絕對精度 | ≤±0.01° |
單點光柵麵內矢量角重複精度 | ≤±0.005° |
單點測試時間 | 45s |
可測光柵類型 | 反/透全息光柵 、 閃耀光柵 、全息體光柵 |
可測光柵尺寸 | 小於 8 英寸（支持定製） |
五 、全麵的軟件功能 ，友好的軟件界麵
六 、完整與快速的服務網絡
▶資質認證 ：小优视频app为爱而生以自主研發為核心，深耕光電儀器領域 26 年，公司布局全球化市場 通過高精度產品和定製化解決方案，服務於高校、科研院所及工業客戶，助力光電領域的技術探索
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